三次元光学プロファイラー
機器通称 | 3Dプロファイラー | 保管場所 | E棟1F計測センター |
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メーカー | AMETEK® | 型式(規格) | Zygo NewViewTM9000 |
用途
滑面、粗面、平面、傾斜面、及び段差を含む広範囲な表面形状を測定。
測定対象仕様
- 材質:不透明体、透明体、コーティング、コーティング無し、鏡面、粗面
- 反射率:0.05%~100%
主要性能
- 垂直走査レンジ:7mm(10倍レンズ)
- 表面形状繰り返し精度:0.08nm
- 繰り返しRMS:0.008nm
- 水平方向解像度:0.34µm (100倍 0.85NAを使用の場合)
- 水平サンプリングサイズ:0.04µm (100倍 2倍 ズームを使用の場合)
- 最大データ走査速度:171µm/sec
- 最大データポイント:1,920,000
- 段差高さ測定精度:不確かさ≦0.3%、繰り返し性≦0.1%@1σ
対物レンズ
- 1.4倍、10倍、20倍、50倍、100倍