エレクトロニクス研究所

フーリエ変換赤外分光装置②

機器通称 FT-IR 保管場所 E棟1F計測センター
メーカー 日本電子(株) 型式(規格) JIR-5500W

概 要

本装置は、それぞれ固有の振動をしている分子に波長を変化させた赤外線を連続的に照射することで、分子固有の振動エネルギーに対応した赤外線が吸収され、分子構造に応じた特有のスペクトルが得られるという原理を利用したフーリエ変換赤外分光装置であり、試料(セラミック、金属、半導体など)に赤外線をあて、どの波数を吸収するかを測定することにより試料内に含まれる原子、分子の種類を決定できる。また、本装置は、異物分析を初め試料表面の変化を測定し反応メカニズムの分析や、成分分析などを短時間に高感度で行うことができる。

基本性能

  • 分解能:0.5 cm-1
  • 波長領域:10,000~400 cm-1
  • 感度:ノイズレベル 1/3,000
  • 顕微システム:25×25 μm2、透過および反射光

アクセサリー

  • PAS(光音響分光)ユニット
  • 低温ユニット
  • 加熱ステージ
  • 拡散反射ユニット
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