エレクトロニクス研究所

クロスセクションポリッシャ

機器通称 CP 保管場所 E棟1F計測センター
メーカー 日本電子(株) 型式(規格) IB-19500CP

概 要

本装置は、ターボ分子ポンプで排気されるチャンバー、オンソース、遮蔽(しゃへい)板保持機構、X-Y移動、角度調整可能な試料ステージ機構等により構成され、試料面上にセットされた遮蔽板にイオンビームを垂直に照射し、イオン照射を受けエッチングされる領域と、遮蔽(しゃへい)板で遮蔽(しゃへい)される領域の境界に沿って断面を形成させる試料作成装置である。

基本性能

  • イオン加速電圧:2~8kV
  • イオンビーム径半値幅:500μm(加速電圧:8 kV、試料:Si)
  • ミリングスピード:500μm/H以上(2時間平均値、加速電圧:8 kV、試料:Si、エッジ距離:100μm)
  • 最大搭載試料サイズ:11 mm×10 mm×2 mm(幅×長さ×厚さ)
  • 試料移動範囲:X軸±10 mm、Y軸±3 mm
  • 試料角度調節範囲:±5°
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